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中国科学院计算技术研究所机构知识库
Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
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研究单元&专题
中国科学院计算技术... [11]
作者
李晓维 [7]
宫云战 [2]
李华伟 [2]
沈理 [2]
骆祖莹 [2]
何蓉晖 [1]
更多...
文献类型
期刊论文 [11]
发表日期
2003 [11]
语种
英语 [11]
出处
微电子学与计算机 [8]
中国科学:E辑 [1]
计算机工程与科学 [1]
计算机科学 [1]
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共11条,第1-10条
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发表日期:2003
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95
100
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WOS被引频次降序
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题名升序
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发表日期升序
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SOC测试数据的编码压缩技术
期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 44
作者:
韩银和
;
李晓维
;
徐勇军
;
蒋敬旗
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2023/12/04
测试
编码压缩技术
SOC
哈夫曼编码
游程编码
Golomb编码
最小海明距离排序
系统集成技术
集成电路
自动提取RTL级集成电路时序信息
期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 006, 页码: 1
作者:
高燕
;
沈理
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2023/12/04
RTL级集成电路
时序信息
自动提取
硬件描述语言
可测试性设计
模拟验证中的覆盖评估准则
期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 40
作者:
吕涛
;
李晓维
;
樊建平
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2023/12/04
模拟验证
覆盖评估准则
电路结构
可观测性
有限自动机
错误模型
集成电路
一种遵循IEEE 1149.1标准的可测试性设计结构
期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 005, 页码: 23
作者:
尹志刚
;
李华伟
;
李晓维
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2023/12/04
IEEE1149.1标准
国际标准
可测试性设计结构
时序电路
基于BDD的组合电路等价性检验方法
期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 48
作者:
李光辉
;
邵明
;
李晓维
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2023/12/04
BDD
形式验证
等价性检验
符号模拟
三叉判决图
组合电路
专用集成电路
测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响
期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 52
作者:
骆祖莹
;
李晓维
;
洪先龙
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2023/12/04
功耗
海明距离
集成电路
向量测试
电路功耗
时序电路
考虑串扰影响的时延测试
期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 011, 页码: 73
作者:
张月
;
李华伟
;
宫云战
;
李晓雄
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2023/12/04
集成电路
设计
集成度
串扰
时延测试
波形敏化
VLSI芯片的可测试性、可调试性、可制造性和可维护性设计
期刊论文
计算机工程与科学, 2003, 卷号: 25.0, 期号: 1.0, 页码: 92
作者:
沈理
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2023/12/04
VLSI芯片
可测试性
可调试性
可制造性
可维护性
设计
超大规模集成电路
一种基于CPLD的I/O总线驱动液晶显示的方法
期刊论文
计算机科学, 2003, 卷号: 30.0, 期号: 008, 页码: 178
作者:
程晓东
;
郑为民
;
唐志敏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2023/12/04
液晶显示器
硬件驱动电路
电路原理图
I/O总线
CPLD
计算机
CMOS VLSI电路无时延平均功耗和有时延平均功耗之间的单调递增关系及其应用
期刊论文
中国科学:E辑, 2003, 卷号: 33.0, 期号: 002, 页码: 174
作者:
骆祖莹
;
闵应骅
;
杨士元
;
李晓维
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2023/12/04
CMOS
VLSI电路
无时延平均功耗
单调递增关系
功耗估计
测试功耗
有时延平均功耗
集成电路