Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
| 基于BDD的组合电路等价性检验方法 | |
| 李光辉; 邵明; 李晓维 | |
| 2003 | |
| 发表期刊 | 微电子学与计算机
 |
| ISSN | 1000-7180 |
| 卷号 | 20.0期号:002页码:48 |
| 摘要 | 文章分析了目前常用的等价性检验方法的特点，包括功能性和结构性的验证方法，讨论了基于二叉判决图（BDD）的组合电路等价性检验方法，并分析了等价性检验过程中的误判问题及其消除方法，然后给出了一种关于带黑匣子的部分实现的隐式等价性检验方法，实验结果表明了该方法的有效性。 |
| 关键词 | BDD 形式验证 等价性检验 符号模拟 三叉判决图 组合电路 专用集成电路 |
| 语种 | 英语 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/29630 |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 第一作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李光辉,邵明,李晓维. 基于BDD的组合电路等价性检验方法[J]. 微电子学与计算机,2003,20.0(002):48. |
| APA | 李光辉,邵明,&李晓维.(2003).基于BDD的组合电路等价性检验方法.微电子学与计算机,20.0(002),48. |
| MLA | 李光辉,et al."基于BDD的组合电路等价性检验方法".微电子学与计算机 20.0.002(2003):48. |
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