Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
| 模拟验证中的覆盖评估准则 | |
| 吕涛; 李晓维; 樊建平 | |
| 2003 | |
| 发表期刊 | 微电子学与计算机
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| ISSN | 1000-7180 |
| 卷号 | 20.0期号:002页码:40 |
| 摘要 | 模拟作为实际工程领域中设计验证的主要方法,其不完备性常常是不可避免的,对大规模的设计方案尤其如此,因此覆盖评估成为模拟验证中不可或缺的技术,文章在陈述覆盖评估意义的基础上,详细介绍了现有的各类覆盖评估准则,剖析了各个准则的优缺点,并通过实验得出比较数据。 |
| 关键词 | 模拟验证 覆盖评估准则 电路结构 可观测性 有限自动机 错误模型 集成电路 |
| 语种 | 英语 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/36848 |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 第一作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吕涛,李晓维,樊建平. 模拟验证中的覆盖评估准则[J]. 微电子学与计算机,2003,20.0(002):40. |
| APA | 吕涛,李晓维,&樊建平.(2003).模拟验证中的覆盖评估准则.微电子学与计算机,20.0(002),40. |
| MLA | 吕涛,et al."模拟验证中的覆盖评估准则".微电子学与计算机 20.0.002(2003):40. |
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