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基于极小碰集求解算法的测试向量集约简 期刊论文
计算机研究与发展, 2019, 卷号: 56.0, 期号: 011, 页码: 2448
作者:  欧阳丹彤;  陈晓艳;  叶靖;  邓召勇;  张立明
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电路测试  自动测试向量生成  测试向量集  约简  故障覆盖率  极小碰集  固定型故障  
数字电路测试压缩方法研究 期刊论文
中国科学院研究生院学报, 2007, 卷号: 24.0, 期号: 006, 页码: 847
作者:  HAN YinHe;  LI XiaoWei
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
系统芯片  测试激励压缩  测试响应压缩  扫描设计  自动测试向量生成（ATPG）  不关心位  未知位  卷积编码  
用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究 期刊论文
计算机研究与发展, 2007, 卷号: 44.0, 期号: 003, 页码: 479
作者:  荀庆来;  邝继顺;  闵应骅
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全速电流测试  瞬态电流测试  微处理器测试  指令序列  
集成电路测试技术的新进展 期刊论文
电子测量与仪器学报, 2007, 卷号: 21.0, 期号: 004, 页码: 1
作者:  时万春
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集成电路测试系统  SIP测试  RF测试  DFT测试  并发测试  开放式体系结构ATE  
面向串扰时延效应的时序分析方法及在集成电路测试中的应用 期刊论文
计算机学报, 2007, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1681
作者:  张旻晋;  李华伟;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
串扰  静态时序分析  通路时延故障  时延测试  
一个适于形式验证的ATPG引擎 期刊论文
计算机研究与发展, 2004, 卷号: 41.0, 期号: 005, 页码: 886
作者:  李光辉;  邵明;  李晓维
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组合电路  测试产生  形式验证  二叉判决图  布尔可满足性  
测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 52
作者:  骆祖莹;  李晓维;  洪先龙
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功耗  海明距离  集成电路  向量测试  电路功耗  时序电路  
CMOS VLSI电路无时延平均功耗和有时延平均功耗之间的单调递增关系及其应用 期刊论文
中国科学：E辑, 2003, 卷号: 33.0, 期号: 002, 页码: 174
作者:  骆祖莹;  闵应骅;  杨士元;  李晓维
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CMOS  VLSI电路  无时延平均功耗  单调递增关系  功耗估计  测试功耗  有时延平均功耗  集成电路  
系统芯片中低功耗测试的几种方法 期刊论文
微电子学与计算机, 2002, 卷号: 19.0, 期号: 010, 页码: 20
作者:  蒋敬旗;  周旭;  李文;  范东睿
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
系统芯片  低功耗  集成电路测试  可测试性设计  
基于RTL行为模型的测试产生及时延测试方法 期刊论文
中国科学院研究生院学报, 2002, 卷号: 19.0, 期号: 002, 页码: 198
作者:  李华伟
收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2023/12/04
RTL行为模型  测试产生  时延测试  寄存器传输级  有限状态机  自动测试向量产生  故障诊断  集成电路测试