Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
| 一个适于形式验证的ATPG引擎 | |
| 李光辉; 邵明; 李晓维 | |
| 2004 | |
| 发表期刊 | 计算机研究与发展
 |
| ISSN | 1000-1239 |
| 卷号 | 41.0期号:005页码:886 |
| 摘要 | 自动测试产生(ATPG)不仅应用于芯片测试向量生成，也是芯片设计验证的重要引擎之一．提出了一种组合电路测试产生的代数方法，既可作为组合验证的ATPG引擎，又可用于通常的测试产生．该算法充分发挥了二叉判决图(BDD)及布尔可满足性(SAT)的优势，通过启发式策略实现SAT算法与BDD算法的交替，防止因构造BDD可能导致的内存爆炸，而且使用增量的可满足性算法，进一步提高了算法的效率．实验结果表明了该算法的可行性和有效性． |
| 关键词 | 组合电路 测试产生 形式验证 二叉判决图 布尔可满足性 |
| 语种 | 英语 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/37260 |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 第一作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李光辉,邵明,李晓维. 一个适于形式验证的ATPG引擎[J]. 计算机研究与发展,2004,41.0(005):886. |
| APA | 李光辉,邵明,&李晓维.(2004).一个适于形式验证的ATPG引擎.计算机研究与发展,41.0(005),886. |
| MLA | 李光辉,et al."一个适于形式验证的ATPG引擎".计算机研究与发展 41.0.005(2004):886. |
| 条目包含的文件 | 条目无相关文件。 | |||||
| 个性服务 |
| 推荐该条目 |
| 保存到收藏夹 |
| 查看访问统计 |
| 导出为Endnote文件 |
| 谷歌学术 |
| 谷歌学术中相似的文章 |
| [李光辉]的文章 |
| [邵明]的文章 |
| [李晓维]的文章 |
| 百度学术 |
| 百度学术中相似的文章 |
| [李光辉]的文章 |
| [邵明]的文章 |
| [李晓维]的文章 |
| 必应学术 |
| 必应学术中相似的文章 |
| [李光辉]的文章 |
| [邵明]的文章 |
| [李晓维]的文章 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论