Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
| 系统芯片中低功耗测试的几种方法 | |
| 蒋敬旗; 周旭; 李文; 范东睿 | |
| 2002 | |
| 发表期刊 | 微电子学与计算机
 |
| ISSN | 1000-7180 |
| 卷号 | 19.0期号:010页码:20 |
| 摘要 | 在系统芯片可测试性设计中考虑功耗优化问题是当前国际上新出现的研究领域。在可测试性设计中考虑功耗的主要原因是数字电路在测试方式下的功耗比系统在正常工作方式下高很多。测试期间的功耗会引发系统成本上升，可靠性降低，成品率下降。本文介绍低功耗测试技术中的一些基本概念，对已有的几种主要的降低测试功耗方法进行分析，最后给出一种高性能微处理器的真速低功耗自测试方法。 |
| 关键词 | 系统芯片 低功耗 集成电路测试 可测试性设计 |
| 语种 | 英语 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/35352 |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 第一作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 蒋敬旗,周旭,李文,等. 系统芯片中低功耗测试的几种方法[J]. 微电子学与计算机,2002,19.0(010):20. |
| APA | 蒋敬旗,周旭,李文,&范东睿.(2002).系统芯片中低功耗测试的几种方法.微电子学与计算机,19.0(010),20. |
| MLA | 蒋敬旗,et al."系统芯片中低功耗测试的几种方法".微电子学与计算机 19.0.010(2002):20. |
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