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基于极小碰集求解算法的测试向量集约简
欧阳丹彤1; 陈晓艳1; 叶靖2; 邓召勇; 张立明
2019
发表期刊计算机研究与发展
ISSN1000-1239
卷号56.0期号:011页码:2448
摘要自动测试向量生成的目的是对特定的故障模型确定1个高质量测试向量集使得芯片(设计)的故障覆盖率达到期望值,在芯片测试中是非常重要的环节.TetraMAX ATPG 2018是众多ATPG工具中功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具,可以在很短的时间内生成具有高故障覆盖率的高质量测试向量集.提出基于极小碰集求解算法的极小完全测试向量集求解算法,通过对测试向量集约简问题重新建模,利用极小碰集求解算法对TetraMAX ATPG 2018产生的测试向量集进行约简.利用这一算法可以有效地缩减测试向量集规模,且保证其故障覆盖率不变,对降低芯片的测试成本有着重要的现实意义.实验针对固定型故障,结果表明:该算法具有良好的约简效果,而且可以保证所得测试向量集中不包含冗余的测试向量.
关键词电路测试 自动测试向量生成 测试向量集 约简 故障覆盖率 极小碰集 固定型故障
语种英语
文献类型期刊论文
条目标识符http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/33155
专题中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文
作者单位1.吉林大学
2.中国科学院计算技术研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
欧阳丹彤,陈晓艳,叶靖,等. 基于极小碰集求解算法的测试向量集约简[J]. 计算机研究与发展,2019,56.0(011):2448.
APA 欧阳丹彤,陈晓艳,叶靖,邓召勇,&张立明.(2019).基于极小碰集求解算法的测试向量集约简.计算机研究与发展,56.0(011),2448.
MLA 欧阳丹彤,et al."基于极小碰集求解算法的测试向量集约简".计算机研究与发展 56.0.011(2019):2448.
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