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中国科学院计算技术研究所机构知识库
Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
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研究单元&专题
中国科学院计算技术... [11]
作者
李华伟 [4]
李晓维 [3]
沈理 [3]
周旭 [2]
李文 [2]
范东睿 [2]
更多...
文献类型
期刊论文 [11]
发表日期
2002 [11]
语种
英语 [11]
出处
同济大学学报:自然科... [4]
计算机研究与发展 [2]
中国科学院研究生院学... [1]
中国科学:E辑 [1]
微电子学与计算机 [1]
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共11条,第1-10条
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发表日期:2002
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95
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系统芯片中低功耗测试的几种方法
期刊论文
微电子学与计算机, 2002, 卷号: 19.0, 期号: 010, 页码: 20
作者:
蒋敬旗
;
周旭
;
李文
;
范东睿
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2023/12/04
系统芯片
低功耗
集成电路测试
可测试性设计
RTL集成电路的时序深度
期刊论文
同济大学学报:自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1209
作者:
高燕
;
沈理
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2023/12/04
RTL集成电路
高层次测试
硬件描述语言
时序深度
寄存器传输液
芯片设计
基于RTL行为模型的测试产生及时延测试方法
期刊论文
中国科学院研究生院学报, 2002, 卷号: 19.0, 期号: 002, 页码: 198
作者:
李华伟
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2023/12/04
RTL行为模型
测试产生
时延测试
寄存器传输级
有限状态机
自动测试向量产生
故障诊断
集成电路测试
集成电路中冒险的检测和消除
期刊论文
计算机工程与应用, 2002, 卷号: 38.0, 期号: 014, 页码: 211
作者:
刘国华
;
余潇洋
;
闵应骅
;
李晓维
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2023/12/04
集成电路
冒险
检测
消除
带符号路径长度
CMOS集成电路
低功耗设计
有限状态机的行为阶段聚类及其对测试的应用
期刊论文
中国科学:E辑, 2002, 卷号: 32.0, 期号: 006, 页码: 846
作者:
李华伟
;
闵应骅
;
李忠诚
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2023/12/04
行为阶段聚类
有限状态机
行为描述
测试产生系统
数学模型
状态转换函数
时序电路
SoC芯片设计方法及标准化
期刊论文
计算机研究与发展, 2002, 卷号: 39.0, 期号: 1.0, 页码: 1
作者:
章立生
;
韩承德
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2023/12/04
系统级芯片
设计方法
集成电路
SoC芯片
标准化
一种快速模糊推理系统
期刊论文
计算机研究与发展, 2002, 卷号: 39.0, 期号: 004, 页码: 406
作者:
沈理
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2023/12/04
模糊逻辑
模糊推理系统
模糊控制
人工智能
超大规模集成电路
一款通用CPU的存储器内建自测试设计
期刊论文
同济大学学报:自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1204
作者:
何蓉晖
;
李华伟
;
李晓维
;
宫云战
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2023/12/04
CPU
存储器内建自测试
故障模型
march算法
可测性设计
超大规模集成电路
IP核
VerilogRTL模型
期刊论文
同济大学学报:自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1194
作者:
沈理
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2023/12/04
VerilogRTL模型
Verilog硬件描述语言
寄存器传输级模型
逻辑模拟
高层次测试
集成电路芯片
芯片测试
可测试性设计中的功耗优化技术
期刊论文
贵州工业大学学报:自然科学版, 2002, 卷号: 31.0, 期号: 004, 页码: 1
作者:
李文
;
周旭
;
范东睿
;
蒋敬旗
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2023/12/04
可测试性设计
功耗优化
低功耗
测试
超大规模集成电路
芯片设计