Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
一款通用CPU的存储器内建自测试设计 | |
何蓉晖; 李华伟; 李晓维; 宫云战 | |
2002 | |
发表期刊 | 同济大学学报:自然科学版
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ISSN | 0253-374X |
卷号 | 30.0期号:010页码:1204 |
摘要 | 存储器内建自测试(memory built-in self-test,MBIST)是一种有效的测试嵌入式存储器的方法,在一款通用CPU芯片的可测性设计(design-for-testability,DFT)中,MBIST作为cache和TLB在存储器测试解决方案被采用,以简化对布局分散,大小不同的双端口SRAM的测试。5个独立的BIST控制器在同一外部信号BistMode的控制下并行工作,测试结果由扫描链输出,使得测试时间和芯片引脚开销都降到最小,所采用的march13n算法胡保了对固定型故障,跳变故障,地址译码故障和读写电路的开路故障均达到100%的故障覆盖率。 |
关键词 | CPU 存储器内建自测试 故障模型 march算法 可测性设计 超大规模集成电路 IP核 |
语种 | 英语 |
文献类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/31128 |
专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
第一作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 何蓉晖,李华伟,李晓维,等. 一款通用CPU的存储器内建自测试设计[J]. 同济大学学报:自然科学版,2002,30.0(010):1204. |
APA | 何蓉晖,李华伟,李晓维,&宫云战.(2002).一款通用CPU的存储器内建自测试设计.同济大学学报:自然科学版,30.0(010),1204. |
MLA | 何蓉晖,et al."一款通用CPU的存储器内建自测试设计".同济大学学报:自然科学版 30.0.010(2002):1204. |
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