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Performance-asymmetry-aware scheduling for Chip Multiprocessors with static core coupling 期刊论文
JOURNAL OF SYSTEMS ARCHITECTURE, 2010, 卷号: 56, 期号: 10, 页码: 534-542
作者:  Dong, Jianbo;  Zhang, Lei;  Han, Yinhe;  Yan, Guihai;  Li, Xiaowei
收藏  |  浏览/下载：48/0  |  提交时间：2019/12/16
Process variation  Thread-level redundancy  Chip Multiprocessor  Scheduling  
Extended Selective Encoding of Scan Slices for Reducing Test Data and Test Power 期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2010, 卷号: E93D, 期号: 8, 页码: 2223-2232
作者:  Liu, Jun;  Han, Yinhe;  Li, Xiaowei
收藏  |  浏览/下载：51/0  |  提交时间：2019/12/16
selective encoding  test data compression  test power reduction  flexible grouping  X-filling  
X-Filling for Simultaneous Shift- and Capture-Power Reduction in At-Speed Scan-Based Testing 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2010, 卷号: 18, 期号: 7, 页码: 1081-1092
作者:  Li, Jia;  Xu, Qiang;  Hu, Yu;  Li, Xiaowei
收藏  |  浏览/下载：42/0  |  提交时间：2019/12/16
At-speed scan-based testing  low-power testing  X-filling  
A Novel Post-Silicon Debug Mechanism Based on Suspect Window 期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2010, 卷号: E93D, 期号: 5, 页码: 1175-1185
作者:  Jianliang Gao;  Yinhe Han;  Xiaowei Li
收藏  |  浏览/下载：43/0  |  提交时间：2019/12/16
debug  scan dump  real-time trace  suspect window  
Testable Critical Path Selection Considering Process Variation 期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2010, 卷号: E93D, 期号: 1, 页码: 59-67
作者:  Fu, Xiang;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei
收藏  |  浏览/下载：43/0  |  提交时间：2019/12/16
testable critical path selection  process variation  
时序敏感的3D IC绑定优化方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 011, 页码: 2029
作者:  王杰;  张磊;  李华伟;  韩银和;  李晓维;  梁华国
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2023/12/04
3D  IC  绑定  时延测量  关键通路  成品率  
无线网络节点的均匀性度量 期刊论文
高技术通讯, 2010, 卷号: 000, 期号: 005, 页码: 448
作者:  周全;  朱红松;  罗海勇;  徐勇军;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2023/12/04
无线传感器网络  均匀度  近似偏差  GVGUM  
采用部分增强型扫描提高跳变时延故障覆盖率的触发器选择方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 009, 页码: 1428
作者:  裴颂伟;  李华伟;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2023/12/04
时延测试  跳变时延故障  增强型扫描  故障覆盖率  触发器选择  
考虑工作负载影响的电路老化预测方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 012, 页码: 2242
作者:  靳松;  韩银和;  李华伟;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2023/12/04
负偏置温度不稳定性  电路老化  占空比  非线性优化  
动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 011, 页码: 2013
作者:  刘军;  韩银和;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04
测试数据压缩  扫描切片  参考切片  压缩率  相容