Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
采用部分增强型扫描提高跳变时延故障覆盖率的触发器选择方法 | |
裴颂伟; 李华伟; 李晓维 | |
2010 | |
发表期刊 | 计算机辅助设计与图形学学报
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ISSN | 1003-9775 |
卷号 | 000期号:009页码:1428 |
摘要 | 选择关键的常规扫描触发器进行置换是采用部分增强型扫描时延测试方法的核心问题.通过定义常规扫描触发器和未检测跳变时延故障的相关度的概念及其计算方法,提出一种触发器选择方法.首先找到被测电路中采用捕获加载方法不可测,但采用增强型扫描可测的跳变时延故障;然后依据常规扫描触发器与这些故障的相关度把少量关键的常规扫描触发器替换成为增强型扫描单元,从而有效地提高电路中跳变时延故障被检测的概率.实验结果表明,采用文中方法在可以接受的硬件开销下能有效地提高被测电路中的跳变时延故障覆盖率. |
关键词 | 时延测试 跳变时延故障 增强型扫描 故障覆盖率 触发器选择 |
语种 | 英语 |
文献类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/36932 |
专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
第一作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 裴颂伟,李华伟,李晓维. 采用部分增强型扫描提高跳变时延故障覆盖率的触发器选择方法[J]. 计算机辅助设计与图形学学报,2010,000(009):1428. |
APA | 裴颂伟,李华伟,&李晓维.(2010).采用部分增强型扫描提高跳变时延故障覆盖率的触发器选择方法.计算机辅助设计与图形学学报,000(009),1428. |
MLA | 裴颂伟,et al."采用部分增强型扫描提高跳变时延故障覆盖率的触发器选择方法".计算机辅助设计与图形学学报 000.009(2010):1428. |
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