中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Observability statement coverage based on dynamic factored use-definition chains for functional verification 期刊论文 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2006, 卷号: 22, 期号: 3, 页码: 273-285 作者:  Lv, Tao;  Fan, Jian-Ping;  Li, Xiao-Wei;  Liu, Ling-Yi 收藏  |  浏览/下载：52/0  |  提交时间：2019/12/16 design verification  coverage metrics  observability  dynamic factored use-definition chains  data-flow analysis
	Selection of crosstalk-induced faults in enhanced delay test 期刊论文 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2005, 卷号: 21, 期号: 2, 页码: 181-195 作者:  Li, HW;  Li, XW 收藏  |  浏览/下载：48/0  |  提交时间：2019/12/16 delay test  crosstalk  automatic test pattern generation (ATPG)  critical paths
	Reduction of number of paths to be tested in delay testing 期刊论文 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2000, 卷号: 16, 期号: 5, 页码: 477-485 作者:  Li, HW;  Li, ZC;  Min, YH 收藏  |  浏览/下载：75/0  |  提交时间：2019/12/16 delay testing  path sensitization  linearly independent  analytical delay model
	Intelligent analysis and off-line debugging of VLSI device test programs 期刊论文 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 1999, 卷号: 14, 期号: 3, 页码: 273-293 作者:  Ma, YH;  Shi, WC 收藏  |  浏览/下载：73/0  |  提交时间：2019/12/16 test program  error type  off-line debugging environment  fuzzy set  FCE (fuzzy comprehensive evaluation)  reference set  evaluation space  evaluation factor  evaluation remark  fuzzy relation  test entity  relevance coefficient
	I-DDT testing versus I-DDQ testing 期刊论文 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 1998, 卷号: 13, 期号: 1, 页码: 51-55 作者:  Min, YH;  Li, ZC 收藏  |  浏览/下载：73/0  |  提交时间：2019/12/16 I-DDQ test  Boolean process  stuck-open fault  I-DDT test