中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	A Guaranteed Secure Scan Design Based on Test Data Obfuscation by Cryptographic Hash 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2020, 卷号: 39, 期号: 12, 页码: 4524-4536 作者:  Cui, Aijiao;  Li, Mengyang;  Qu, Gang;  Li, Huawei 收藏  |  浏览/下载：29/0  |  提交时间：2021/12/01 Ciphers  Encryption  Integrated circuits  Side-channel attacks  Testing  Cryptographic hash function  obfuscation logic  scan design  scan-based side-channel attack
	Software-Based Self-Testing Using Bounded Model Checking for Out-of-Order Superscalar Processors 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2020, 卷号: 39, 期号: 3, 页码: 714-727 作者:  Zhang, Ying;  Chakrabarty, Krishnendu;  Peng, Zebo;  Rezine, Ahmed;  Li, Huawei;  Eles, Petru;  Jiang, Jianhui 收藏  |  浏览/下载：51/0  |  提交时间：2020/12/10 Circuit faults  Built-in self-test  Out of order  Model checking  Integrated circuit modeling  Bounded model checking (BMC)  online testing  out-of-order superscalar processors  software-based self-testing (SBST)
	Capture-power-aware test data compression using selective encoding 期刊论文 INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2011, 卷号: 44, 期号: 3, 页码: 205-216 作者:  Li, Jia;  Liu, Xiao;  Zhang, Yubin;  Hu, Yu;  Li, Xiaowei;  Xu, Qiang 收藏  |  浏览/下载：69/0  |  提交时间：2019/12/16 Test compression  Low-power testing  Scan-based testing
	Scan chain design for shift power reduction in scan-based testing 期刊论文 SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2011, 卷号: 54, 期号: 4, 页码: 767-777 作者:  Li Jia;  Hu Yu;  Li XiaoWei 收藏  |  浏览/下载：66/0  |  提交时间：2019/12/16 low power DfT  scan-based testing  test power reduction  scan chain design
	Design for Testability Features of Godson-3 Multicore Microprocessor 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2011, 卷号: 26, 期号: 2, 页码: 302-313 作者:  Qi, Zi-Chu;  Liu, Hui;  Li, Xiang-Ku;  Hu, Wei-Wu 收藏  |  浏览/下载：65/0  |  提交时间：2019/12/16 DFT (design for testability)  TAM (test access mechanism)  multicore processor  low power test
	X-Filling for Simultaneous Shift- and Capture-Power Reduction in At-Speed Scan-Based Testing 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2010, 卷号: 18, 期号: 7, 页码: 1081-1092 作者:  Li, Jia;  Xu, Qiang;  Hu, Yu;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2019/12/16 At-speed scan-based testing  low-power testing  X-filling
	无权访问的条目 期刊论文 作者:  张颖;  李华伟;  李晓维;  胡瑜 Adobe PDF(509Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/11/08
	无权访问的条目 期刊论文 作者:  Da Wang(王 达);  Yu Hu(胡 瑜);  Hua-Wei Li(李华伟);  Xiao-Wei Li(李晓维) Adobe PDF(9188Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/11/02
	无权访问的条目 期刊论文 作者:  范小鑫;  李华伟;  胡瑜;  李晓维 Adobe PDF(261Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/11/22
	Compression/scan co-design for reducing test data volume, scan-in power dissipation, and test application time 期刊论文 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2006, 卷号: E89D, 期号: 10, 页码: 2616-2625 作者:  Hu, Yu;  Han, Yinhe;  Li, Xiaowei;  Li, Huawei;  Wen, Xiaoqing 收藏  |  浏览/下载：45/0  |  提交时间：2019/12/16 compression  run-length coding  random access scan  power dissipation  test application time