中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Capture-power-aware test data compression using selective encoding 期刊论文 INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2011, 卷号: 44, 期号: 3, 页码: 205-216 作者:  Li, Jia;  Liu, Xiao;  Zhang, Yubin;  Hu, Yu;  Li, Xiaowei;  Xu, Qiang 收藏  |  浏览/下载：71/0  |  提交时间：2019/12/16 Test compression  Low-power testing  Scan-based testing
	Scan chain design for shift power reduction in scan-based testing 期刊论文 SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2011, 卷号: 54, 期号: 4, 页码: 767-777 作者:  Li Jia;  Hu Yu;  Li XiaoWei 收藏  |  浏览/下载：68/0  |  提交时间：2019/12/16 low power DfT  scan-based testing  test power reduction  scan chain design
	Design for Testability Features of Godson-3 Multicore Microprocessor 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2011, 卷号: 26, 期号: 2, 页码: 302-313 作者:  Qi, Zi-Chu;  Liu, Hui;  Li, Xiang-Ku;  Hu, Wei-Wu 收藏  |  浏览/下载：67/0  |  提交时间：2019/12/16 DFT (design for testability)  TAM (test access mechanism)  multicore processor  low power test
	Extended Selective Encoding of Scan Slices for Reducing Test Data and Test Power 期刊论文 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2010, 卷号: E93D, 期号: 8, 页码: 2223-2232 作者:  Liu, Jun;  Han, Yinhe;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：49/0  |  提交时间：2019/12/16 selective encoding  test data compression  test power reduction  flexible grouping  X-filling
	Co-optimization of Dynamic/Static Test Power in Scan Test 期刊论文 CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS, 2009, 卷号: 18, 期号: 1, 页码: 54-58 作者:  Wang Wei;  Han Yinhe;  Li Xiaowei;  Fang Fang 收藏  |  浏览/下载：42/0  |  提交时间：2019/12/16 Co-optimization  Test power  Blocking logic  Minimum leakage vector
	Compression/scan co-design for reducing test data volume, scan-in power dissipation, and test application time 期刊论文 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2006, 卷号: E89D, 期号: 10, 页码: 2616-2625 作者:  Hu, Yu;  Han, Yinhe;  Li, Xiaowei;  Li, Huawei;  Wen, Xiaoqing 收藏  |  浏览/下载：47/0  |  提交时间：2019/12/16 compression  run-length coding  random access scan  power dissipation  test application time
	The monotonic increasing relationship between average powers of CMOS VLSI circuits with and without delay and its applications 期刊论文 SCIENCE IN CHINA SERIES F, 2002, 卷号: 45, 期号: 6, 页码: 401-415 作者:  Luo, ZY;  Min, YH;  Yang, SY;  Li, XW 收藏  |  浏览/下载：70/0  |  提交时间：2019/12/16 CMOS  VLSI  power estimation  test power