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基于极小碰集求解算法的测试向量集约简 期刊论文
计算机研究与发展, 2019, 卷号: 56.0, 期号: 011, 页码: 2448
作者:  欧阳丹彤;  陈晓艳;  叶靖;  邓召勇;  张立明
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电路测试  自动测试向量生成  测试向量集  约简  故障覆盖率  极小碰集  固定型故障  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  王飞;  胡瑜;  李晓维
Adobe PDF(547Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/11/09
集成电路测试技术的新进展 期刊论文
电子测量与仪器学报, 2007, 卷号: 21.0, 期号: 004, 页码: 1
作者:  时万春
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04
集成电路测试系统  SIP测试  RF测试  DFT测试  并发测试  开放式体系结构ATE  
系统芯片中低功耗测试的几种方法 期刊论文
微电子学与计算机, 2002, 卷号: 19.0, 期号: 010, 页码: 20
作者:  蒋敬旗;  周旭;  李文;  范东睿
收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2023/12/04
系统芯片  低功耗  集成电路测试  可测试性设计  
基于RTL行为模型的测试产生及时延测试方法 期刊论文
中国科学院研究生院学报, 2002, 卷号: 19.0, 期号: 002, 页码: 198
作者:  李华伟
收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2023/12/04
RTL行为模型  测试产生  时延测试  寄存器传输级  有限状态机  自动测试向量产生  故障诊断  集成电路测试