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Response compaction for system-on-a-chip based on advanced convolutional codes 期刊论文
SCIENCE IN CHINA SERIES F-INFORMATION SCIENCES, 2006, 卷号: 49, 期号: 2, 页码: 262-272
作者:  Han, YH;  Li, HW;  Li, XW;  Anshuman, C
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SOC test  response compaction  convolutional code  aliasing  X bits masking  
Embedded test resource for SoC to reduce required tester channels based on advanced convolutional codes 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2006, 卷号: 55, 期号: 2, 页码: 389-399
作者:  Han, YH;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A
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automatic test equipment  convolutional code  diagnosis  error cancellation  masking  unknown bits (X-bits)  
An innovative free memory design for network processors in home network gateway 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CONSUMER ELECTRONICS, 2005, 卷号: 51, 期号: 4, 页码: 1182-1187
作者:  Gong, SG;  Li, HW;  Li, XW
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home network  network processor  linear allocation  open-page policy  bitmap  
Wrapper scan chains design for rapid and low power testing of embedded cores 期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2005, 卷号: E88D, 期号: 9, 页码: 2126-2134
作者:  Han, YH;  Hu, Y;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A;  Wen, XQ
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SOC testing  wrapper design  scan slices  overlapping  
Selection of crosstalk-induced faults in enhanced delay test 期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2005, 卷号: 21, 期号: 2, 页码: 181-195
作者:  Li, HW;  Li, XW
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delay test  crosstalk  automatic test pattern generation (ATPG)  critical paths  
Test resource partitioning based on efficient response compaction for test time and tester channels reduction 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2005, 卷号: 20, 期号: 2, 页码: 201-209
作者:  Han, YH;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A
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system-on-a-chip (SoC)  test resource partitioning (TRP)  response compaction  diagnose  error cancellation  
A novel RTL behavioral description based ATPG method 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2003, 卷号: 18, 期号: 3, 页码: 308-317
作者:  Yin, ZG;  Min, YH;  Li, XW;  Li, HW
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RTL (Register Transfer Level)  ATPG (Automatic Test Pattern Generation)  behavioral description  HDL (Hardware Description Language)  
Clustering of behavioral phases in FSMs and its applications to VLSI test 期刊论文
SCIENCE IN CHINA SERIES F, 2002, 卷号: 45, 期号: 6, 页码: 462-478
作者:  Li, HW;  Min, YH;  Li, ZC
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finite-state machines  clustering of states  behavioral descriptions  test generation  
Reduction of number of paths to be tested in delay testing 期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2000, 卷号: 16, 期号: 5, 页码: 477-485
作者:  Li, HW;  Li, ZC;  Min, YH
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delay testing  path sensitization  linearly independent  analytical delay model