中国科学院计算技术研究所机构知识库

浏览/检索结果: 共5条，第1-5条

帮助

已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择期刊影响因子升序期刊影响因子降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序WOS被引频次升序WOS被引频次降序题名升序题名降序
	A reconfigurable 4-GS/s power-efficient floating-point FFT processor design and implementation based on single-sided binary-tree decomposition 期刊论文 INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2019, 卷号: 66, 页码: 164-172 作者:  Wei, Xing;  Yang, Haigang;  Li, Wei;  Huang, Zhihong;  Yin, Tao;  Yu, Le 收藏  |  浏览/下载：85/0  |  提交时间：2019/08/16 Floating-point  Fast fourier transform (FFT)  Mixed-radix  Multi-path delay feedback (MDF)  Binary-tree decomposition  Twiddle factor  Fused FP arithmetic unit
	PUFPass: A password management mechanism based on software/hardware codesign 期刊论文 INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2019, 卷号: 64, 页码: 173-183 作者:  Guo, Qingli;  Ye, Jing;  Li, Bing;  Hu, Yu;  Li, Xiaowei;  Lan, Yazhu;  Zhang, Guohe 收藏  |  浏览/下载：69/0  |  提交时间：2019/04/03 Password  Password management mechanism  PUF  Security  Usability
	LOFT: A low-overhead fault-tolerant routing scheme for 3D NoCs 期刊论文 INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2016, 卷号: 52, 页码: 41-50 作者:  Zhou, Jun;  Li, Huawei;  Wang, Tiancheng;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：46/0  |  提交时间：2019/12/13 Networks-on-chip  3D Mesh  Permanent fault  Fault-tolerance  Routing scheme
	Capture-power-aware test data compression using selective encoding 期刊论文 INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2011, 卷号: 44, 期号: 3, 页码: 205-216 作者:  Li, Jia;  Liu, Xiao;  Zhang, Yubin;  Hu, Yu;  Li, Xiaowei;  Xu, Qiang 收藏  |  浏览/下载：69/0  |  提交时间：2019/12/16 Test compression  Low-power testing  Scan-based testing
	Statistical lifetime reliability optimization considering joint effect of process variation and aging 期刊论文 INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2011, 卷号: 44, 期号: 3, 页码: 185-191 作者:  Jin, Song;  Han, Yinhe;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：67/0  |  提交时间：2019/12/16 Lifetime reliability  Process variation  NBTI  Duty cycle  Gate sizing