中国科学院计算技术研究所机构知识库

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限定条件	作者：Hu, Yu    第一作者    语种：英语

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	Capture-power-aware test data compression using selective encoding 期刊论文 INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2011, 卷号: 44, 期号: 3, 页码: 205-216 作者:  Li, Jia;  Liu, Xiao;  Zhang, Yubin;  Hu, Yu;  Li, Xiaowei;  Xu, Qiang 收藏  |  浏览/下载：69/0  |  提交时间：2019/12/16 Test compression  Low-power testing  Scan-based testing
	X-Filling for Simultaneous Shift- and Capture-Power Reduction in At-Speed Scan-Based Testing 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2010, 卷号: 18, 期号: 7, 页码: 1081-1092 作者:  Li, Jia;  Xu, Qiang;  Hu, Yu;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2019/12/16 At-speed scan-based testing  low-power testing  X-filling
	Design-for-Testability Features and Test Implementation of a Giga Hertz General Purpose Microprocessor 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2008, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 1037-1046 作者:  Wang, Da;  Hu, Yu;  Li, Hua-Wei;  Li, Xiao-Wei 收藏  |  浏览/下载：41/0  |  提交时间：2019/12/16 microprocessor design-for-testability  test generation  built-in self-test  at-speed testing
	Leakage current optimization techniques during test based on don't care bits assignment 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2007, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 673-680 作者:  Wang, Wei;  Hu, Yu;  Han, Yin-He;  Li, Xiao-Wei;  Zhang, You-Sheng 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2019/12/16 leakage current  don't care bits  minimum leakage vector  leakage power
	Compression/scan co-design for reducing test data volume, scan-in power dissipation, and test application time 期刊论文 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2006, 卷号: E89D, 期号: 10, 页码: 2616-2625 作者:  Hu, Yu;  Han, Yinhe;  Li, Xiaowei;  Li, Huawei;  Wen, Xiaoqing 收藏  |  浏览/下载：45/0  |  提交时间：2019/12/16 compression  run-length coding  random access scan  power dissipation  test application time