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中国科学院计算技术研究所机构知识库
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文献类型
期刊论文 [4]
发表日期
2002 [4]
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英语 [4]
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中国科学院研究生院学... [1]
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发表日期:2002
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系统芯片中低功耗测试的几种方法
期刊论文
微电子学与计算机, 2002, 卷号: 19.0, 期号: 010, 页码: 20
作者:
蒋敬旗
;
周旭
;
李文
;
范东睿
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2023/12/04
系统芯片
低功耗
集成电路测试
可测试性设计
基于RTL行为模型的测试产生及时延测试方法
期刊论文
中国科学院研究生院学报, 2002, 卷号: 19.0, 期号: 002, 页码: 198
作者:
李华伟
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2023/12/04
RTL行为模型
测试产生
时延测试
寄存器传输级
有限状态机
自动测试向量产生
故障诊断
集成电路测试
VerilogRTL模型
期刊论文
同济大学学报:自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1194
作者:
沈理
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2023/12/04
VerilogRTL模型
Verilog硬件描述语言
寄存器传输级模型
逻辑模拟
高层次测试
集成电路芯片
芯片测试
可测试性设计中的功耗优化技术
期刊论文
贵州工业大学学报:自然科学版, 2002, 卷号: 31.0, 期号: 004, 页码: 1
作者:
李文
;
周旭
;
范东睿
;
蒋敬旗
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2023/12/04
可测试性设计
功耗优化
低功耗
测试
超大规模集成电路
芯片设计