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中国科学院计算技术研究所机构知识库
Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
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Capture-power-aware test data compression using selective encoding
期刊论文
INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2011, 卷号: 44, 期号: 3, 页码: 205-216
作者:
Li, Jia
;
Liu, Xiao
;
Zhang, Yubin
;
Hu, Yu
;
Li, Xiaowei
;
Xu, Qiang
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提交时间:2019/12/16
Test compression
Low-power testing
Scan-based testing
Extended Selective Encoding of Scan Slices for Reducing Test Data and Test Power
期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2010, 卷号: E93D, 期号: 8, 页码: 2223-2232
作者:
Liu, Jun
;
Han, Yinhe
;
Li, Xiaowei
收藏
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浏览/下载:52/0
  |  
提交时间:2019/12/16
selective encoding
test data compression
test power reduction
flexible grouping
X-filling
Compression/scan co-design for reducing test data volume, scan-in power dissipation, and test application time
期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2006, 卷号: E89D, 期号: 10, 页码: 2616-2625
作者:
Hu, Yu
;
Han, Yinhe
;
Li, Xiaowei
;
Li, Huawei
;
Wen, Xiaoqing
收藏
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浏览/下载:50/0
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提交时间:2019/12/16
compression
run-length coding
random access scan
power dissipation
test application time