中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Software-Based Self-Testing Using Bounded Model Checking for Out-of-Order Superscalar Processors 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2020, 卷号: 39, 期号: 3, 页码: 714-727 作者:  Zhang, Ying;  Chakrabarty, Krishnendu;  Peng, Zebo;  Rezine, Ahmed;  Li, Huawei;  Eles, Petru;  Jiang, Jianhui 收藏  |  浏览/下载：60/0  |  提交时间：2020/12/10 Circuit faults  Built-in self-test  Out of order  Model checking  Integrated circuit modeling  Bounded model checking (BMC)  online testing  out-of-order superscalar processors  software-based self-testing (SBST)
	Design-for-Testability Features and Test Implementation of a Giga Hertz General Purpose Microprocessor 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2008, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 1037-1046 作者:  Wang, Da;  Hu, Yu;  Li, Hua-Wei;  Li, Xiao-Wei 收藏  |  浏览/下载：46/0  |  提交时间：2019/12/16 microprocessor design-for-testability  test generation  built-in self-test  at-speed testing
	无权访问的条目 期刊论文 作者:  Da Wang(王 达);  Yu Hu(胡 瑜);  Hua-Wei Li(李华伟);  Xiao-Wei Li(李晓维) Adobe PDF(9188Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/11/02
	A loop-based apparatus for at-speed self-testing 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2001, 卷号: 16, 期号: 3, 页码: 278-285 作者:  Li, XW;  Cheung, PYS 收藏  |  浏览/下载：78/0  |  提交时间：2019/12/16 built-in self-test  at-speed test  multiple input shift register  state transition graph