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Response compaction for system-on-a-chip based on advanced convolutional codes 期刊论文
SCIENCE IN CHINA SERIES F-INFORMATION SCIENCES, 2006, 卷号: 49, 期号: 2, 页码: 262-272
作者:  Han, YH;  Li, HW;  Li, XW;  Anshuman, C
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SOC test  response compaction  convolutional code  aliasing  X bits masking  
Embedded test resource for SoC to reduce required tester channels based on advanced convolutional codes 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2006, 卷号: 55, 期号: 2, 页码: 389-399
作者:  Han, YH;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A
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automatic test equipment  convolutional code  diagnosis  error cancellation  masking  unknown bits (X-bits)  
A novel localization scheme based on RSS data for wireless sensor networks 期刊论文
ADVANCED WEB AND NETWORK TECHNOLOGIES, AND APPLICATIONS, PROCEEDINGS, 2006, 卷号: 3842, 页码: 315-320
作者:  Chen, HY;  Ping, D;  Xu, YJ;  Li, XW
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An efficient evaluation and vector generation method for observability-enhanced statement coverage 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2005, 卷号: 20, 期号: 6, 页码: 875-884
作者:  Lu, W;  Yang, XT;  Lv, T;  Li, XW
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design verification  simulation  coverage metrics  observability  vector generation  
An innovative free memory design for network processors in home network gateway 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CONSUMER ELECTRONICS, 2005, 卷号: 51, 期号: 4, 页码: 1182-1187
作者:  Gong, SG;  Li, HW;  Li, XW
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home network  network processor  linear allocation  open-page policy  bitmap  
Wrapper scan chains design for rapid and low power testing of embedded cores 期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2005, 卷号: E88D, 期号: 9, 页码: 2126-2134
作者:  Han, YH;  Hu, Y;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A;  Wen, XQ
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SOC testing  wrapper design  scan slices  overlapping  
Selection of crosstalk-induced faults in enhanced delay test 期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2005, 卷号: 21, 期号: 2, 页码: 181-195
作者:  Li, HW;  Li, XW
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delay test  crosstalk  automatic test pattern generation (ATPG)  critical paths  
Test resource partitioning based on efficient response compaction for test time and tester channels reduction 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2005, 卷号: 20, 期号: 2, 页码: 201-209
作者:  Han, YH;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A
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system-on-a-chip (SoC)  test resource partitioning (TRP)  response compaction  diagnose  error cancellation  
Formal verification techniques based on Boolean satisfiability problem 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2005, 卷号: 20, 期号: 1, 页码: 38-47
作者:  Li, XW;  Li, GH;  Shao, M
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equivalence checking  incremental satisfiability  minimal unsatisfiable formula  model checking  
Leakage current estimation of CMOS circuit with stack effect 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2004, 卷号: 19, 期号: 5, 页码: 708-717
作者:  Xu, YJ;  Luo, ZY;  Li, XW;  Li, LJ;  Hong, XL
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computer-aided design  leakage current estimation  stack effect  macromodeling  propagation of signal probability