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文献类型：期刊论文

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	Software-Based Self-Testing Using Bounded Model Checking for Out-of-Order Superscalar Processors 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2020, 卷号: 39, 期号: 3, 页码: 714-727 作者:  Zhang, Ying;  Chakrabarty, Krishnendu;  Peng, Zebo;  Rezine, Ahmed;  Li, Huawei;  Eles, Petru;  Jiang, Jianhui 收藏  |  浏览/下载：50/0  |  提交时间：2020/12/10 Circuit faults  Built-in self-test  Out of order  Model checking  Integrated circuit modeling  Bounded model checking (BMC)  online testing  out-of-order superscalar processors  software-based self-testing (SBST)
	Fault tolerance on-chip: a reliable computing paradigm using self-test, self-diagnosis, and self-repair (3S) approach 期刊论文 SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2018, 卷号: 61, 期号: 11, 页码: 17 作者:  Li, Xiaowei;  Yan, Guihai;  Ye, Jing;  Wang, Ying 收藏  |  浏览/下载：69/0  |  提交时间：2019/12/10 fault tolerance  on-chip  self-test  self-diagnosis  self-repair
	Fault tolerance on-chip:a reliable computing paradigm using self-test,self-diagnosis,and self-repair (3S)approach 期刊论文 中国科学:信息科学(英文版), 2018, 卷号: 61.0, 期号: 011, 页码: 112102 作者:  Xiaowei LI;  Guihai YAN;  Jing YE;  Ying WANG 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 fault  tolerance  on-chip  self-test  self-diagnosis  self-repair
	无权访问的条目 期刊论文 作者:  齐子初;  刘慧 Adobe PDF(347Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2012/05/23
	无权访问的条目 期刊论文 作者:  林伟 Adobe PDF(3660Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/07/02
	无权访问的条目 期刊论文 作者:  胡瑜;  李晓维 Adobe PDF(1312Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/03/30
	无权访问的条目 期刊论文 作者:  谢远江;  王达;  胡瑜;  李晓维 Adobe PDF(563Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/11/08
	无权访问的条目 期刊论文 作者:  Jian-Wei Xu(许建卫);  Ming-Yu Chen (陈明宇);  Gui Zheng (郑规);  Zheng Cao(曹政);  Hui-Wei Lv(吕慧伟);  Ning-Hui Sun (孙凝晖) Adobe PDF(403Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/11/02
	Design-for-Testability Features and Test Implementation of a Giga Hertz General Purpose Microprocessor 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2008, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 1037-1046 作者:  Wang, Da;  Hu, Yu;  Li, Hua-Wei;  Li, Xiao-Wei 收藏  |  浏览/下载：41/0  |  提交时间：2019/12/16 microprocessor design-for-testability  test generation  built-in self-test  at-speed testing
	无权访问的条目 期刊论文 作者:  Jian Yu(喻 坚);  Yan-Bo Han(韩燕波);  Jun Han4(韩 军);  Yan Jin(金 岩);  Paolo Falcarin;  Maurizio Morisio Adobe PDF(1867Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/11/02