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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 冯子军; 肖俊华; 胡伟武
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 常晓涛; 范东睿; 韩银和; 张志敏
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 李佳; 胡瑜; 李晓维; 王伟
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 徐勇军; 韩银和; 李华伟; 李晓维
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 陈静华; 陈迪平; 徐勇军; 张志敏; 李晓维
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 韩银和; 李晓维
Adobe PDF(444Kb) | 收藏 | 浏览/下载：0/0 | 提交时间：2010/11/23 |
| 一种基于概率分析的扫描链动态功耗模型 期刊论文
微电子学与计算机, 2004, 卷号: 21.0, 期号: 002, 页码: 108
作者: 李晓维; 陈治国; 徐勇军
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CMOS电路 概率分析 扫描链 动态功耗模型 电路功耗 静态功耗 动态功耗 |
| 测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 52
作者: 骆祖莹; 李晓维; 洪先龙
收藏 | 浏览/下载：5/0 | 提交时间：2023/12/04
功耗 海明距离 集成电路 向量测试 电路功耗 时序电路 |
| CMOS VLSI电路无时延平均功耗和有时延平均功耗之间的单调递增关系及其应用 期刊论文
中国科学：E辑, 2003, 卷号: 33.0, 期号: 002, 页码: 174
作者: 骆祖莹; 闵应骅; 杨士元; 李晓维
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CMOS VLSI电路 无时延平均功耗 单调递增关系 功耗估计 测试功耗 有时延平均功耗 集成电路 |
