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一种基于概率分析的扫描链动态功耗模型
李晓维1; 陈治国2; 徐勇军1
2004
发表期刊微电子学与计算机
ISSN1000-7180
卷号21.0期号:002页码:108
摘要文章通过对扫描测试期间扫描链跳变统计分析,建立了基于概率统计的扫描链功耗模型。该模型可以对扫描链的动态功耗进行快速准确的估计。在此基础上,依据扫描单元的置1概率重排扫描链能有效地降低扫描功耗。实验结果表明,这种方法是有效可行的。
关键词CMOS电路 概率分析 扫描链 动态功耗模型 电路功耗 静态功耗 动态功耗
语种英语
文献类型期刊论文
条目标识符http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/31878
专题中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文
作者单位1.中国科学院计算技术研究所
2.电子科技大学
第一作者单位中国科学院计算技术研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
李晓维,陈治国,徐勇军. 一种基于概率分析的扫描链动态功耗模型[J]. 微电子学与计算机,2004,21.0(002):108.
APA 李晓维,陈治国,&徐勇军.(2004).一种基于概率分析的扫描链动态功耗模型.微电子学与计算机,21.0(002),108.
MLA 李晓维,et al."一种基于概率分析的扫描链动态功耗模型".微电子学与计算机 21.0.002(2004):108.
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