中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	基于极小碰集求解算法的测试向量集约简 期刊论文 计算机研究与发展, 2019, 卷号: 56.0, 期号: 011, 页码: 2448 作者:  欧阳丹彤;  陈晓艳;  叶靖;  邓召勇;  张立明 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2023/12/04 电路测试  自动测试向量生成  测试向量集  约简  故障覆盖率  极小碰集  固定型故障
	基于GPU的最大化1～n倍检测的测试向量选择方法 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2014, 卷号: 26.0, 期号: 1.0, 页码: 154 作者:  许达文;  李华伟 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 测试向量选择  n倍检测  GPU  并行编程
	采用部分增强型扫描提高跳变时延故障覆盖率的触发器选择方法 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 009, 页码: 1428 作者:  裴颂伟;  李华伟;  李晓维 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 时延测试  跳变时延故障  增强型扫描  故障覆盖率  触发器选择
	数字电路测试压缩方法研究 期刊论文 中国科学院研究生院学报, 2007, 卷号: 24.0, 期号: 006, 页码: 847 作者:  HAN YinHe;  LI XiaoWei 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 系统芯片  测试激励压缩  测试响应压缩  扫描设计  自动测试向量生成（ATPG）  不关心位  未知位  卷积编码
	一种低功耗BIST测试产生器方案 期刊论文 微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 36 作者:  何蓉晖;  李晓维;  宫云战 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2023/12/04 BIST  低功耗设计  内建自测试  测试产生器  线性反馈移位寄存器  集成电路
	基于RTL行为模型的测试产生及时延测试方法 期刊论文 中国科学院研究生院学报, 2002, 卷号: 19.0, 期号: 002, 页码: 198 作者:  李华伟 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2023/12/04 RTL行为模型  测试产生  时延测试  寄存器传输级  有限状态机  自动测试向量产生  故障诊断  集成电路测试
	SoC设计中嵌入存储器对ATPG的影响 期刊论文 计算机研究与发展, 2002, 卷号: 39.0, 期号: 006, 页码: 763 作者:  陈志冲;  周锦锋;  倪光南 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 SoC设计  嵌入存储器  ATPG  系统级芯片  可测性设计
	一款通用CPU的存储器内建自测试设计 期刊论文 同济大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1204 作者:  何蓉晖;  李华伟;  李晓维;  宫云战 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 CPU  存储器内建自测试  故障模型  march算法  可测性设计  超大规模集成电路  IP核