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自动提取RTL级集成电路时序信息 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 006, 页码: 1
作者:  高燕;  沈理
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RTL级集成电路  时序信息  自动提取  硬件描述语言  可测试性设计  
模拟验证中的覆盖评估准则 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 40
作者:  吕涛;  李晓维;  樊建平
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模拟验证  覆盖评估准则  电路结构  可观测性  有限自动机  错误模型  集成电路  
考虑串扰影响的时延测试 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 011, 页码: 73
作者:  张月;  李华伟;  宫云战;  李晓雄
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集成电路  设计  集成度  串扰  时延测试  波形敏化