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中国科学院计算技术研究所机构知识库
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中国科学院计算技术... [12]
作者
Li, Xiaow... [12]
Wang, Ying [6]
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Li, Huawei [3]
Hu, Yu [2]
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共12条,第1-10条
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限定条件
作者:Li, Xiaowei
第一作者
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10
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On-Line Fault Protection for ReRAM-Based Neural Networks
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, 2023, 卷号: 72, 期号: 2, 页码: 423-437
作者:
Li, Wen
;
Wang, Ying
;
Liu, Cheng
;
He, Yintao
;
Liu, Lian
;
Li, Huawei
;
Li, Xiaowei
收藏
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浏览/下载:14/0
  |  
提交时间:2023/07/12
Training
Fault detection
Computational modeling
Image edge detection
Memristors
Neural networks
Kernel
Deep neural network
hard fault
ReRAM
reliability
soft fault
SynergyFlow: An Elastic Accelerator Architecture Supporting Batch Processing of Large-Scale Deep Neural Networks
期刊论文
ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS, 2019, 卷号: 24, 期号: 1, 页码: 27
作者:
Li, Jiajun
;
Yan, Guihai
;
Lu, Wenyan
;
Gong, Shijun
;
Jiang, Shuhao
;
Wu, Jingya
;
Li, Xiaowei
收藏
  |  
浏览/下载:70/0
  |  
提交时间:2019/04/03
Deep neural networks
convolutional neural networks
accelerator
architecture
resource utilization
complementary effect
Fault tolerance on-chip: a reliable computing paradigm using self-test, self-diagnosis, and self-repair (3S) approach
期刊论文
SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2018, 卷号: 61, 期号: 11, 页码: 17
作者:
Li, Xiaowei
;
Yan, Guihai
;
Ye, Jing
;
Wang, Ying
收藏
  |  
浏览/下载:69/0
  |  
提交时间:2019/12/10
fault tolerance
on-chip
self-test
self-diagnosis
self-repair
Power-Utility-Driven Write Management for MLC PCM
期刊论文
ACM JOURNAL ON EMERGING TECHNOLOGIES IN COMPUTING SYSTEMS, 2017, 卷号: 13, 期号: 3, 页码: 22
作者:
Li, Bing
;
Hu, Yu
;
Wang, Ying
;
Ye, Jing
;
Li, Xiaowei
收藏
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浏览/下载:54/0
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提交时间:2019/12/12
Phase change memory
multi-level
main memory
power
write management
optimization
CoreRank: Redeeming "Sick Silicon" by Dynamically Quantifying Core-Level Healthy Condition
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, 2016, 卷号: 65, 期号: 3, 页码: 716-729
作者:
Yan, Guihai
;
Sun, Faqiang
;
Li, Huawei
;
Li, Xiaowei
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浏览/下载:39/0
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提交时间:2019/12/13
Reliability
heterogeneity
healthy condition
manycore processor
Enhanced Wear-Rate Leveling for PRAM Lifetime Improvement Considering Process Variation
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2016, 卷号: 24, 期号: 1, 页码: 92-102
作者:
Han, Yinhe
;
Dong, Jianbo
;
Weng, Kaiheng
;
Wang, Ying
;
Li, Xiaowei
收藏
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浏览/下载:42/0
  |  
提交时间:2019/12/13
Endurance
phase-change random access memory (PRAM)
wear leveling (WL)
Data Remapping for Static NUCA in Degradable Chip Multiprocessors
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2015, 卷号: 23, 期号: 5, 页码: 879-892
作者:
Wang, Ying
;
Zhang, Lei
;
Han, Yin-He
;
Li, Hua-Wei
;
Li, Xiaowei
收藏
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浏览/下载:37/0
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提交时间:2019/12/13
Chip multiprocessor (CMP)
fault tolerant
network-on-chip (NoC)
nonuniform cache architecture (NUCA)
A signal degradation reduction method for memristor ratioed logic (MRL) gates
期刊论文
IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2015, 卷号: 12, 期号: 8, 页码: 6
作者:
Liu, Bosheng l
;
Wang, Ying
;
You, Zhiqiang
;
Han, Yinhe
;
Li, Xiaowei
收藏
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浏览/下载:39/0
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提交时间:2019/12/13
full adder
memristor ratioed logic (MRL) gate
ReviveNet: A Self-Adaptive Architecture for Improving Lifetime Reliability via Localized Timing Adaptation
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, 2011, 卷号: 60, 期号: 9, 页码: 1219-1232
作者:
Yan, Guihai
;
Han, Yinhe
;
Li, Xiaowei
收藏
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浏览/下载:64/0
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提交时间:2019/12/16
Lifetime reliability
self-adaptive
aging sensor
timing adaptation
NBTI
Statistical lifetime reliability optimization considering joint effect of process variation and aging
期刊论文
INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2011, 卷号: 44, 期号: 3, 页码: 185-191
作者:
Jin, Song
;
Han, Yinhe
;
Li, Huawei
;
Li, Xiaowei
收藏
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浏览/下载:67/0
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提交时间:2019/12/16
Lifetime reliability
Process variation
NBTI
Duty cycle
Gate sizing