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Fault Modeling and Efficient Testing of Memristor-Based Memory 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2021, 卷号: 68, 期号: 11, 页码: 4444-4455
作者:  Liu, Peng;  You, Zhiqiang;  Wu, Jigang;  Liu, Bosheng;  Han, Yinhe;  Chakrabarty, Krishnendu
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Electrical defects  fault model  defect-oriented testing  March algorithm  non-volatile memory  
Defect Analysis and Parallel Testing or 3D Hybrid CMOS-Memristor Memory 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON EMERGING TOPICS IN COMPUTING, 2021, 卷号: 9, 期号: 2, 页码: 745-758
作者:  Liu, Peng;  You, Zhiqiang;  Wu, Jigang;  Elimu, Michael;  Wang, Weizheng;  Cai, Shuo;  Han, Yinhe
收藏  |  浏览/下载:33/0  |  提交时间:2021/12/01
Non-volatile memory  RRAM  CMOL  memristor  testing  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  黄玉坤
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  靳小龙;  王元卓;  程学旗
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  严林
Adobe PDF(2988Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2013/07/12
无权访问的条目 期刊论文
作者:  李佳佳;  李兴建;  谭光明
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  刘军发;  陈益强;  赵中堂;  宁琼
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  林伟
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Dong-Rui Fan* (范东睿);  Nan Yuan (袁楠);  Jun-Chao Zhang (张军超);  Yong-Bin Zhou (周永彬);  Wei Lin (林伟);  Feng-Long Song (宋风龙);  Xiao-Chun Ye (叶笑春);  He Huang (黄河);  Lei Yu (余磊);  Guo-Ping Long (龙国平);  Hao Zhang (张浩);  Lei Liu (刘磊)
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Jian-Wei Xu(许建卫);  Ming-Yu Chen (陈明宇);  Gui Zheng (郑规);  Zheng Cao(曹政);  Hui-Wei Lv(吕慧伟);  Ning-Hui Sun (孙凝晖)
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