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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 裴颂伟; 李华伟
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: Da Wang(王 达); Yu Hu(胡 瑜); Hua-Wei Li(李华伟); Xiao-Wei Li(李晓维)
Adobe PDF(9188Kb) | 收藏 | 浏览/下载：0/0 | 提交时间：2010/11/02 |
| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 王飞; 胡瑜; 李华伟; 李晓维
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 范小鑫; 李华伟; 胡瑜; 李晓维
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 李华伟; 李晓维
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 李华伟
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| 一种遵循IEEE 1149．1标准的可测试性设计结构 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 005, 页码: 23
作者: 尹志刚; 李华伟; 李晓维
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IEEE1149.1标准 国际标准 可测试性设计结构 时序电路 |
| 可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用 期刊论文
计算机工程与应用, 2002, 卷号: 38.0, 期号: 016, 页码: 191
作者: 李华伟; 李晓维; 尹志刚; 吕涛; 何蓉晖
收藏 | 浏览/下载：7/0 | 提交时间：2023/12/04
可测试性设计 CPU芯片 扫描设计 TEEE1149.1标准 |
| 一款通用CPU的存储器内建自测试设计 期刊论文
同济大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1204
作者: 何蓉晖; 李华伟; 李晓维; 宫云战
收藏 | 浏览/下载：5/0 | 提交时间：2023/12/04
CPU 存储器内建自测试 故障模型 march算法 可测性设计 超大规模集成电路 IP核 |
