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一种CPU芯片硬件验证调试平台的设计与实现 期刊论文
计算机研究与发展, 2003, 卷号: 40.0, 期号: 006, 页码: 884
作者:  李文;  王恒才;  唐志敏
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CPU芯片  激励测试  边界扫描测试  程序性测试  FPGA  
VLSI芯片的可测试性、可调试性、可制造性和可维护性设计 期刊论文
计算机工程与科学, 2003, 卷号: 25.0, 期号: 1.0, 页码: 92
作者:  沈理
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VLSI芯片  可测试性  可调试性  可制造性  可维护性  设计  超大规模集成电路