Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
一种CPU芯片硬件验证调试平台的设计与实现 | |
李文1; 王恒才2; 唐志敏1 | |
2003 | |
发表期刊 | 计算机研究与发展 |
ISSN | 1000-1239 |
卷号 | 40.0期号:006页码:884 |
摘要 | 给出了CPU芯片硬件验证调试平台的一种具体设计方案.该验证调试平台在设计方法上采用了程序性在线测试方法.该平台构建了CPU芯片的运行环境,能够控制CPU芯片输入脉冲单拍/多拍或连续运行,并且在CPU芯片的运行过程中可以监测CPU芯片内部寄存器的内容.该平台的实现不仅有益于CPU芯片的设计和调试,而且能够作为CPU芯片设计教学系统以及嵌入式系统开发平台. |
关键词 | CPU芯片 激励测试 边界扫描测试 程序性测试 FPGA |
语种 | 英语 |
文献类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/35328 |
专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
作者单位 | 1.中国科学院计算技术研究所 2.中国科学技术大学 |
第一作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李文,王恒才,唐志敏. 一种CPU芯片硬件验证调试平台的设计与实现[J]. 计算机研究与发展,2003,40.0(006):884. |
APA | 李文,王恒才,&唐志敏.(2003).一种CPU芯片硬件验证调试平台的设计与实现.计算机研究与发展,40.0(006),884. |
MLA | 李文,et al."一种CPU芯片硬件验证调试平台的设计与实现".计算机研究与发展 40.0.006(2003):884. |
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