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| “存储+逻辑”3D集成电路的硅通孔可测试性设计 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2014, 卷号: 26.0, 期号: 1.0, 页码: 146 作者: 叶靖; 郭瑞峰; 胡瑜; 郑武东; 黄宇; 赖李洋; 李晓维 收藏  |  浏览/下载:6/0  |  提交时间:2023/12/04 3D集成电路 硅通孔 可测试性设计 JEDEC协议JESD229 IEEE 1149 1协议 |
| 基于SAT的快速电路时延计算 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2011, 卷号: 23.0, 期号: 003, 页码: 480 作者: 何子键; 吕涛; 李华伟; 李晓维 收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04 可满足性 电路时延 电路展开 |
| 考虑工作负载影响的电路老化预测方法 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 012, 页码: 2242 作者: 靳松; 韩银和; 李华伟; 李晓维 收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04 负偏置温度不稳定性 电路老化 占空比 非线性优化 |
| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 王飞; 胡瑜; 李晓维 Adobe PDF(547Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/11/09 |
| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 董 婕; 胡 瑜; 韩银和; 李晓维 Adobe PDF(374Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/10/15 |
| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 王伟; 韩银和; 胡瑜; 李晓维; 张佑生 Adobe PDF(417Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/11/23 |
| 基于增量可满足性的等价性检验方法 期刊论文 计算机学报, 2004, 卷号: 27.0, 期号: 010, 页码: 1388 作者: 李光辉; 李晓维 收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04 增量可满足性 等价性检验 组合电路 形式验证 数字集成电路 等价结点 |
| 一个适于形式验证的ATPG引擎 期刊论文 计算机研究与发展, 2004, 卷号: 41.0, 期号: 005, 页码: 886 作者: 李光辉; 邵明; 李晓维 收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04 组合电路 测试产生 形式验证 二叉判决图 布尔可满足性 |
| 一种基于概率分析的扫描链动态功耗模型 期刊论文 微电子学与计算机, 2004, 卷号: 21.0, 期号: 002, 页码: 108 作者: 李晓维; 陈治国; 徐勇军 收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04 CMOS电路 概率分析 扫描链 动态功耗模型 电路功耗 静态功耗 动态功耗 |
| SOC测试数据的编码压缩技术 期刊论文 微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 44 作者: 韩银和; 李晓维; 徐勇军; 蒋敬旗 收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04 测试 编码压缩技术 SOC 哈夫曼编码 游程编码 Golomb编码 最小海明距离排序 系统集成技术 集成电路 |