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中国科学院计算技术研究所机构知识库
Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
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Li, Xiaow... [11]
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文献类型
期刊论文 [19]
发表日期
2011 [19]
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发表日期:2011
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无权访问的条目
期刊论文
作者:
付斌章
;
韩银和
;
李华伟
;
李晓维
Adobe PDF(437Kb)
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提交时间:2011/12/31
Path Delay Test Generation Toward Activation of Worst Case Coupling Effects
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2011, 卷号: 19, 期号: 11, 页码: 1969-1982
作者:
Zhang, Minjin
;
Li, Huawei
;
Li, Xiaowei
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浏览/下载:76/0
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提交时间:2019/12/16
Crosstalk-induced delay
delay testing
path delay fault
signal integrity
test generation
timing analysis
Selected Transition Time Adjustment for Tolerating Crosstalk Effects on Network-on-Chip Interconnects
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2011, 卷号: 19, 期号: 10, 页码: 1787-1800
作者:
Zhang, Ying
;
Li, Huawei
;
Min, Yinghua
;
Li, Xiaowei
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浏览/下载:66/0
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提交时间:2019/12/16
Crosstalk
crosstalk tolerance
interconnects
network-on-chip (NOC)
ReviveNet: A Self-Adaptive Architecture for Improving Lifetime Reliability via Localized Timing Adaptation
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, 2011, 卷号: 60, 期号: 9, 页码: 1219-1232
作者:
Yan, Guihai
;
Han, Yinhe
;
Li, Xiaowei
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浏览/下载:67/0
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提交时间:2019/12/16
Lifetime reliability
self-adaptive
aging sensor
timing adaptation
NBTI
SVFD: A Versatile Online Fault Detection Scheme via Checking of Stability Violation
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2011, 卷号: 19, 期号: 9, 页码: 1627-1640
作者:
Yan, Guihai
;
Han, Yinhe
;
Li, Xiaowei
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浏览/下载:70/0
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提交时间:2019/12/16
Aging
delay fault
online fault detection
soft error
stability violation
A Loss Inference Algorithm for Wireless Sensor Networks to Improve Data Reliability of Digital Ecosystems
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL ELECTRONICS, 2011, 卷号: 58, 期号: 6, 页码: 2126-2137
作者:
Yang, Yu
;
Xu, Yongjun
;
Li, Xiaowei
;
Chen, Canfeng
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浏览/下载:72/0
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提交时间:2019/12/16
Cyber-physical ecosystems (CPEs)
data aggregation
digital ecosystems (DEs)
network performance measurement
network tomography
wireless sensor networks (WSNs)
Capture-power-aware test data compression using selective encoding
期刊论文
INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2011, 卷号: 44, 期号: 3, 页码: 205-216
作者:
Li, Jia
;
Liu, Xiao
;
Zhang, Yubin
;
Hu, Yu
;
Li, Xiaowei
;
Xu, Qiang
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浏览/下载:72/0
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提交时间:2019/12/16
Test compression
Low-power testing
Scan-based testing
Statistical lifetime reliability optimization considering joint effect of process variation and aging
期刊论文
INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2011, 卷号: 44, 期号: 3, 页码: 185-191
作者:
Jin, Song
;
Han, Yinhe
;
Li, Huawei
;
Li, Xiaowei
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浏览/下载:70/0
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提交时间:2019/12/16
Lifetime reliability
Process variation
NBTI
Duty cycle
Gate sizing
A New Multiple-Round Dimension-Order Routing for Networks-on-Chip
期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2011, 卷号: E94D, 期号: 4, 页码: 809-821
作者:
Fu, Binzhang
;
Han, Yinhe
;
Li, Huawei
;
Li, Xiaowei
收藏
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浏览/下载:73/0
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提交时间:2019/12/16
network-on-chip (NoC)
fault-tolerant routing
multiple round dimension-order routing
turn model
Scan chain design for shift power reduction in scan-based testing
期刊论文
SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2011, 卷号: 54, 期号: 4, 页码: 767-777
作者:
Li Jia
;
Hu Yu
;
Li XiaoWei
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浏览/下载:69/0
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提交时间:2019/12/16
low power DfT
scan-based testing
test power reduction
scan chain design