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系统芯片中低功耗测试的几种方法 期刊论文
微电子学与计算机, 2002, 卷号: 19.0, 期号: 010, 页码: 20
作者:  蒋敬旗;  周旭;  李文;  范东睿
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系统芯片  低功耗  集成电路测试  可测试性设计  
通用CPU设计中的模拟验证技术及应用 期刊论文
系统仿真学报, 2002, 卷号: 14.0, 期号: 012, 页码: 1698
作者:  吕涛;  李华伟;  尹志刚;  刘国华;  李晓维;  樊建平
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CPU  设计  模拟验证  芯片  错误模型  覆盖准则  
可测试性设计中的功耗优化技术 期刊论文
贵州工业大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 31.0, 期号: 004, 页码: 1
作者:  李文;  周旭;  范东睿;  蒋敬旗
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可测试性设计  功耗优化  低功耗  测试  超大规模集成电路  芯片设计