中国科学院计算技术研究所机构知识库

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限定条件	作者：Xu, Dawen分Xu, Dawen    作者：Wang, Ying    第一作者

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	HyCA: A Hybrid Computing Architecture for Fault-Tolerant Deep Learning 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2022, 卷号: 41, 期号: 10, 页码: 3400-3413 作者:  Liu, Cheng;  Chu, Cheng;  Xu, Dawen;  Wang, Ying;  Wang, Qianlong;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei;  Cheng, Kwang-Ting 收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2022/12/07 Circuit faults  Computational modeling  Deep learning  Hardware  Redundancy  Neural networks  Computer architecture  Deep learning accelerator (DLA)  fault detection  fault tolerance  hybrid computing architecture (HyCA)
	Taming Process Variations in CNFET for Efficient Last-Level Cache Design 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2022, 卷号: 30, 期号: 4, 页码: 418-431 作者:  Xu, Dawen;  Feng, Zhuangyu;  Liu, Cheng;  Li, Li;  Wang, Ying;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2022/12/07 CNTFETs  Delays  Transistors  Layout  Very large scale integration  Radio frequency  Energy consumption  nanotube field-effect transistor (CNFET)  last-level cache (LLC)  process variation (PV)  variation-aware cache
	Reliability Evaluation and Analysis of FPGA-Based Neural Network Acceleration System 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2021, 卷号: 29, 期号: 3, 页码: 472-484 作者:  Xu, Dawen;  Zhu, Ziyang;  Liu, Cheng;  Wang, Ying;  Zhao, Shuang;  Zhang, Lei;  Liang, Huaguo;  Li, Huawei;  Cheng, Kwang-Ting 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2021/12/01 Neural networks  Circuit faults  Hardware  Acceleration  Reliability  Analytical models  Computational modeling  Integrated circuit reliability  reliability