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Design-for-Testability Features and Test Implementation of a Giga Hertz General Purpose Microprocessor 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2008, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 1037-1046
作者:  Wang, Da;  Hu, Yu;  Li, Hua-Wei;  Li, Xiao-Wei
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microprocessor design-for-testability  test generation  built-in self-test  at-speed testing  
Leakage current optimization techniques during test based on don't care bits assignment 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2007, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 673-680
作者:  Wang, Wei;  Hu, Yu;  Han, Yin-He;  Li, Xiao-Wei;  Zhang, You-Sheng
收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2019/12/16
leakage current  don't care bits  minimum leakage vector  leakage power