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系统芯片中低功耗测试的几种方法 期刊论文
微电子学与计算机, 2002, 卷号: 19.0, 期号: 010, 页码: 20
作者:  蒋敬旗;  周旭;  李文;  范东睿
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系统芯片  低功耗  集成电路测试  可测试性设计  
可测试性设计中的功耗优化技术 期刊论文
贵州工业大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 31.0, 期号: 004, 页码: 1
作者:  李文;  周旭;  范东睿;  蒋敬旗
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
可测试性设计  功耗优化  低功耗  测试  超大规模集成电路  芯片设计