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中国科学院计算技术研究所机构知识库
Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
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作者:Hu, Yu分Hu, Yu
作者:Hu, Yu
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TSocket: Thermal Sustainable Power Budgeting
期刊论文
ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS, 2016, 卷号: 21, 期号: 2, 页码: 22
作者:
Chen, Guoqing
;
Xu, Yi
;
Hu, Xing
;
Guo, Xiangyang
;
Ma, Jun
;
Hu, Yu
;
Xie, Yuan
收藏
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提交时间:2019/12/13
Design
Management
Performance
Reliability
Power budgeting
performance optimization
thermal modeling
multicore system
OWARE: OPERAND WIDTH AWARE REDUNDANT EXECUTION FOR WHOLE-PROCESSOR ERROR DETECTION
期刊论文
INTELLIGENT AUTOMATION AND SOFT COMPUTING, 2011, 卷号: 17, 期号: 6, 页码: 771-780
作者:
Hu, Yu
;
Chen, Zhongliang
;
Li, Xiaowei
收藏
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浏览/下载:68/0
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提交时间:2019/12/16
narrow-width value
sphere of replication
data-level redundancy
instruction-level redundancy
A Domain Partition Model Approach to the Online Fault Recovery of FPGA-Based Reconfigurable Systems
期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON FUNDAMENTALS OF ELECTRONICS COMMUNICATIONS AND COMPUTER SCIENCES, 2011, 卷号: E94A, 期号: 1, 页码: 290-299
作者:
Shang, Lihong
;
Zhou, Mi
;
Hu, Yu
;
Yang, Erfu
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浏览/下载:66/0
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提交时间:2019/12/16
fault-recovery
FPGAs
reconfigurable systems
domain partition
fault-tolerance
X-Filling for Simultaneous Shift- and Capture-Power Reduction in At-Speed Scan-Based Testing
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2010, 卷号: 18, 期号: 7, 页码: 1081-1092
作者:
Li, Jia
;
Xu, Qiang
;
Hu, Yu
;
Li, Xiaowei
收藏
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浏览/下载:38/0
  |  
提交时间:2019/12/16
At-speed scan-based testing
low-power testing
X-filling
Leakage current optimization techniques during test based on don't care bits assignment
期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2007, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 673-680
作者:
Wang, Wei
;
Hu, Yu
;
Han, Yin-He
;
Li, Xiao-Wei
;
Zhang, You-Sheng
收藏
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浏览/下载:38/0
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提交时间:2019/12/16
leakage current
don't care bits
minimum leakage vector
leakage power
Compression/scan co-design for reducing test data volume, scan-in power dissipation, and test application time
期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2006, 卷号: E89D, 期号: 10, 页码: 2616-2625
作者:
Hu, Yu
;
Han, Yinhe
;
Li, Xiaowei
;
Li, Huawei
;
Wen, Xiaoqing
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浏览/下载:45/0
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提交时间:2019/12/16
compression
run-length coding
random access scan
power dissipation
test application time