中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Co-optimization of Dynamic/Static Test Power in Scan Test 期刊论文 CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS, 2009, 卷号: 18, 期号: 1, 页码: 54-58 作者:  Wang Wei;  Han Yinhe;  Li Xiaowei;  Fang Fang 收藏  |  浏览/下载：45/0  |  提交时间：2019/12/16 Co-optimization  Test power  Blocking logic  Minimum leakage vector
	Leakage current optimization techniques during test based on don't care bits assignment 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2007, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 673-680 作者:  Wang, Wei;  Hu, Yu;  Han, Yin-He;  Li, Xiao-Wei;  Zhang, You-Sheng 收藏  |  浏览/下载：44/0  |  提交时间：2019/12/16 leakage current  don't care bits  minimum leakage vector  leakage power
	无权访问的条目 期刊论文 作者:  Wei Wang(王伟);  Yu Hu(胡瑜);  Yin-He Han(韩银和);  Xiao-Wei Li(李晓维);  You-Sheng Zhang(张佑生) Adobe PDF(362Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/11/03