中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	On-Chip Generating FPGA Test Configuration Bitstreams to Reduce Manufacturing Test Time 期刊论文 CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS, 2016, 卷号: 25, 期号: 1, 页码: 64-70 作者:  Wang Fei;  Wang Da;  Yang Haigang;  Xie Xianghui;  Fan Dongrui 收藏  |  浏览/下载：57/0  |  提交时间：2019/12/13 FPGA test  Test configuration bitstream  Design-for-testability
	Design for Testability Features of Godson-3 Multicore Microprocessor 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2011, 卷号: 26, 期号: 2, 页码: 302-313 作者:  Qi, Zi-Chu;  Liu, Hui;  Li, Xiang-Ku;  Hu, Wei-Wu 收藏  |  浏览/下载：72/0  |  提交时间：2019/12/16 DFT (design for testability)  TAM (test access mechanism)  multicore processor  low power test
	Design-for-Testability Features and Test Implementation of a Giga Hertz General Purpose Microprocessor 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2008, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 1037-1046 作者:  Wang, Da;  Hu, Yu;  Li, Hua-Wei;  Li, Xiao-Wei 收藏  |  浏览/下载：46/0  |  提交时间：2019/12/16 microprocessor design-for-testability  test generation  built-in self-test  at-speed testing
	无权访问的条目 期刊论文 作者:  Da Wang(王 达);  Yu Hu(胡 瑜);  Hua-Wei Li(李华伟);  Xiao-Wei Li(李晓维) Adobe PDF(9188Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/11/02