中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	A fast test compaction method using dedicated Pure MaxSAT solver embedded in DFT flow 期刊论文 INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2025, 卷号: 100, 页码: 11 作者:  Chao, Zhiteng;  Zhang, Xindi;  Huang, Junying;  Liu, Zizhen;  Zhao, Yixuan;  Ye, Jing;  Cai, Shaowei;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2024/12/06 Static test compaction  Pure MaxSAT  DFT  ATPG
	Automatic Generation of High-Performance FFT Kernels on Arm and X86 CPUs 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON PARALLEL AND DISTRIBUTED SYSTEMS, 2020, 卷号: 31, 期号: 8, 页码: 1925-1941 作者:  Li, Zhihao;  Jia, Haipeng;  Zhang, Yunquan;  Chen, Tun;  Yuan, Liang;  Vuduc, Richard 收藏  |  浏览/下载：65/0  |  提交时间：2020/12/10 AutoFFT  FFT  code generation  template  DFT
	Scan chain design for shift power reduction in scan-based testing 期刊论文 SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2011, 卷号: 54, 期号: 4, 页码: 767-777 作者:  Li Jia;  Hu Yu;  Li XiaoWei 收藏  |  浏览/下载：71/0  |  提交时间：2019/12/16 low power DfT  scan-based testing  test power reduction  scan chain design
	Design for Testability Features of Godson-3 Multicore Microprocessor 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2011, 卷号: 26, 期号: 2, 页码: 302-313 作者:  Qi, Zi-Chu;  Liu, Hui;  Li, Xiang-Ku;  Hu, Wei-Wu 收藏  |  浏览/下载：72/0  |  提交时间：2019/12/16 DFT (design for testability)  TAM (test access mechanism)  multicore processor  low power test
	集成电路测试技术的新进展 期刊论文 电子测量与仪器学报, 2007, 卷号: 21.0, 期号: 004, 页码: 1 作者:  时万春 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04 集成电路测试系统  SIP测试  RF测试  DFT测试  并发测试  开放式体系结构ATE