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一种CPU芯片硬件验证调试平台的设计与实现 期刊论文
计算机研究与发展, 2003, 卷号: 40.0, 期号: 006, 页码: 884
作者:  李文;  王恒才;  唐志敏
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CPU芯片  激励测试  边界扫描测试  程序性测试  FPGA  
龙芯1号通用CPU芯片的研制 期刊论文
中国科学院院刊, 2002, 卷号: 17.0, 期号: 006, 页码: 437
作者:  唐志敏
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龙芯1号  CPU芯片  设计技术  可测性  仿真  
可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用 期刊论文
计算机工程与应用, 2002, 卷号: 38.0, 期号: 016, 页码: 191
作者:  李华伟;  李晓维;  尹志刚;  吕涛;  何蓉晖
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可测试性设计  CPU芯片  扫描设计  TEEE1149.1标准