×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
登录
中文版
|
English
中国科学院计算技术研究所机构知识库
Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
登录
注册
ALL
ORCID
题名
作者
学科领域
关键词
文献类型
出处
收录类别
出版者
发表日期
存缴日期
资助项目
学科门类
学习讨论厅
图片搜索
粘贴图片网址
首页
研究单元&专题
作者
文献类型
学科分类
知识图谱
新闻&公告
在结果中检索
研究单元&专题
中国科学院计算技术研... [4]
作者
Han, Yinhe [4]
Liu, Peng [4]
Wu, Jigang [4]
You, Zhiqi... [3]
Liu, Boshe... [2]
Cai, Shuo [1]
更多...
文献类型
期刊论文 [4]
发表日期
2022 [1]
2021 [3]
语种
英语 [4]
出处
IEEE TRANS... [1]
IEEE TRANS... [1]
IEEE TRANS... [1]
IEEE TRANS... [1]
资助项目
Guangdong ... [3]
Guangdong ... [2]
Guangdong ... [2]
Guangdong ... [2]
National N... [2]
National N... [2]
更多...
收录类别
SCI [4]
资助机构
×
知识图谱
CSpace
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共4条,第1-4条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
提交时间升序
提交时间降序
期刊影响因子升序
期刊影响因子降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
Search-Free Inference Acceleration for Sparse Convolutional Neural Networks
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2022, 卷号: 41, 期号: 7, 页码: 2156-2169
作者:
Liu, Bosheng
;
Chen, Xiaoming
;
Han, Yinhe
;
Wu, Jigang
;
Chang, Liang
;
Liu, Peng
;
Xu, Haobo
收藏
  |  
浏览/下载:32/0
  |  
提交时间:2022/12/07
Internal interconnection
memory bandwidth
sparse accelerators
sparse convolution neural networks (CNNs)
Fault Modeling and Efficient Testing of Memristor-Based Memory
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2021, 卷号: 68, 期号: 11, 页码: 4444-4455
作者:
Liu, Peng
;
You, Zhiqiang
;
Wu, Jigang
;
Liu, Bosheng
;
Han, Yinhe
;
Chakrabarty, Krishnendu
收藏
  |  
浏览/下载:33/0
  |  
提交时间:2022/06/21
Electrical defects
fault model
defect-oriented testing
March algorithm
non-volatile memory
Integrating Two Logics Into One Crossbar Array for Logic Gate Design
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS II-EXPRESS BRIEFS, 2021, 卷号: 68, 期号: 8, 页码: 2987-2991
作者:
Yao, Lian
;
Liu, Peng
;
Wu, Jigang
;
Han, Yinhe
;
Zhong, Yuehang
;
You, Zhiqiang
收藏
  |  
浏览/下载:47/0
  |  
提交时间:2021/12/01
Logic gates
Memristors
Logic arrays
Resistance
Logic functions
Adders
Switches
Logic gates
memristive crossbar
material implication
not material implication
1-bit full adder
Defect Analysis and Parallel Testing or 3D Hybrid CMOS-Memristor Memory
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON EMERGING TOPICS IN COMPUTING, 2021, 卷号: 9, 期号: 2, 页码: 745-758
作者:
Liu, Peng
;
You, Zhiqiang
;
Wu, Jigang
;
Elimu, Michael
;
Wang, Weizheng
;
Cai, Shuo
;
Han, Yinhe
收藏
  |  
浏览/下载:41/0
  |  
提交时间:2021/12/01
Non-volatile memory
RRAM
CMOL
memristor
testing