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中国科学院计算技术研究所机构知识库
Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
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Li, Xiaowe... [3]
Hu, Yu [2]
Li, Jia [2]
Xu, Qiang [2]
Han, Yinhe [1]
Liu, Jun [1]
更多...
文献类型
期刊论文 [3]
发表日期
2011 [1]
2010 [2]
语种
英语 [3]
出处
IEEE TRANS... [1]
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Capture-power-aware test data compression using selective encoding
期刊论文
INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2011, 卷号: 44, 期号: 3, 页码: 205-216
作者:
Li, Jia
;
Liu, Xiao
;
Zhang, Yubin
;
Hu, Yu
;
Li, Xiaowei
;
Xu, Qiang
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提交时间:2019/12/16
Test compression
Low-power testing
Scan-based testing
Extended Selective Encoding of Scan Slices for Reducing Test Data and Test Power
期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2010, 卷号: E93D, 期号: 8, 页码: 2223-2232
作者:
Liu, Jun
;
Han, Yinhe
;
Li, Xiaowei
收藏
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浏览/下载:52/0
  |  
提交时间:2019/12/16
selective encoding
test data compression
test power reduction
flexible grouping
X-filling
X-Filling for Simultaneous Shift- and Capture-Power Reduction in At-Speed Scan-Based Testing
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2010, 卷号: 18, 期号: 7, 页码: 1081-1092
作者:
Li, Jia
;
Xu, Qiang
;
Hu, Yu
;
Li, Xiaowei
收藏
  |  
浏览/下载:43/0
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提交时间:2019/12/16
At-speed scan-based testing
low-power testing
X-filling