中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Functional Test Generation for Hard-to-Reach States Using Path Constraint Solving 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2016, 卷号: 35, 期号: 6, 页码: 999-1011 作者:  Zhou, Yanhong;  Wang, Tiancheng;  Li, Huawei;  Lv, Tao;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：69/0  |  提交时间：2019/12/13 Abstraction-guided simulation  functional test generation  hard-to-reach states  path constraint solving
	Abstraction-Guided Simulation Using Markov Analysis for Functional Verification 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2016, 卷号: 35, 期号: 2, 页码: 285-297 作者:  Wang, Jian;  Li, Huawei;  Lv, Tao;  Wang, Tiancheng;  Li, Xiaowei;  Kundu, Sandip 收藏  |  浏览/下载：43/0  |  提交时间：2019/12/13 Abstraction-guided simulation  Markov analysis  semi-formal verification
	LOFT: A low-overhead fault-tolerant routing scheme for 3D NoCs 期刊论文 INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2016, 卷号: 52, 页码: 41-50 作者:  Zhou, Jun;  Li, Huawei;  Wang, Tiancheng;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：49/0  |  提交时间：2019/12/13 Networks-on-chip  3D Mesh  Permanent fault  Fault-tolerance  Routing scheme
	On-Chip Generating FPGA Test Configuration Bitstreams to Reduce Manufacturing Test Time 期刊论文 CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS, 2016, 卷号: 25, 期号: 1, 页码: 64-70 作者:  Wang Fei;  Wang Da;  Yang Haigang;  Xie Xianghui;  Fan Dongrui 收藏  |  浏览/下载：55/0  |  提交时间：2019/12/13 FPGA test  Test configuration bitstream  Design-for-testability
	Path Delay Test Generation Toward Activation of Worst Case Coupling Effects 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2011, 卷号: 19, 期号: 11, 页码: 1969-1982 作者:  Zhang, Minjin;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：76/0  |  提交时间：2019/12/16 Crosstalk-induced delay  delay testing  path delay fault  signal integrity  test generation  timing analysis