中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Reliability Evaluation and Analysis of FPGA-Based Neural Network Acceleration System 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2021, 卷号: 29, 期号: 3, 页码: 472-484 作者:  Xu, Dawen;  Zhu, Ziyang;  Liu, Cheng;  Wang, Ying;  Zhao, Shuang;  Zhang, Lei;  Liang, Huaguo;  Li, Huawei;  Cheng, Kwang-Ting 收藏  |  浏览/下载：48/0  |  提交时间：2021/12/01 Neural networks  Circuit faults  Hardware  Acceleration  Reliability  Analytical models  Computational modeling  Integrated circuit reliability  reliability
	基于输出违例概率的时延向量测试质量评估 期刊论文 电子学报, 2011, 卷号: 39.0, 期号: 005, 页码: 1031 作者:  王杰;  梁华国;  李华伟;  闵应骅;  李晓维 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04 小时延缺陷  时延测试  冒险  测试质量评估  输出违例概率
	时序敏感的3D IC绑定优化方法 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 011, 页码: 2029 作者:  王杰;  张磊;  李华伟;  韩银和;  李晓维;  梁华国 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04 3D  IC  绑定  时延测量  关键通路  成品率