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A Hybrid Intelligent Search Algorithm for Automatic Test Data Generation 期刊论文
MATHEMATICAL PROBLEMS IN ENGINEERING, 2015, 页码: 15
作者:  Xing, Ying;  Gong, Yun-Zhan;  Wang, Ya-Wen;  Zhang, Xu-Zhou
收藏  |  浏览/下载：45/0  |  提交时间：2019/12/13
考虑串扰影响的时延测试 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 011, 页码: 73
作者:  张月;  李华伟;  宫云战;  李晓雄
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04
集成电路  设计  集成度  串扰  时延测试  波形敏化  
一种低功耗BIST测试产生器方案 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 36
作者:  何蓉晖;  李晓维;  宫云战
收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2023/12/04
BIST  低功耗设计  内建自测试  测试产生器  线性反馈移位寄存器  集成电路  
一款通用CPU的存储器内建自测试设计 期刊论文
同济大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1204
作者:  何蓉晖;  李华伟;  李晓维;  宫云战
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04
CPU  存储器内建自测试  故障模型  march算法  可测性设计  超大规模集成电路  IP核  
MBDD构造与优化设计 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 1996, 卷号: 8.0, 期号: 003, 页码: 234
作者:  张东林;  宫云战;  何新华
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04
构造  集成电路  CAD  MBDD  优化设计