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SOC测试数据的编码压缩技术 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 44
作者:  韩银和;  李晓维;  徐勇军;  蒋敬旗
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测试  编码压缩技术  SOC  哈夫曼编码  游程编码  Golomb编码  最小海明距离排序  系统集成技术  集成电路  
系统芯片中低功耗测试的几种方法 期刊论文
微电子学与计算机, 2002, 卷号: 19.0, 期号: 010, 页码: 20
作者:  蒋敬旗;  周旭;  李文;  范东睿
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系统芯片  低功耗  集成电路测试  可测试性设计  
可测试性设计中的功耗优化技术 期刊论文
贵州工业大学学报:自然科学版, 2002, 卷号: 31.0, 期号: 004, 页码: 1
作者:  李文;  周旭;  范东睿;  蒋敬旗
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可测试性设计  功耗优化  低功耗  测试  超大规模集成电路  芯片设计