中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	考虑串扰影响的时延测试 期刊论文 微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 011, 页码: 73 作者:  张月;  李华伟;  宫云战;  李晓雄 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04 集成电路  设计  集成度  串扰  时延测试  波形敏化
	一种低功耗BIST测试产生器方案 期刊论文 微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 36 作者:  何蓉晖;  李晓维;  宫云战 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2023/12/04 BIST  低功耗设计  内建自测试  测试产生器  线性反馈移位寄存器  集成电路
	一款通用CPU的存储器内建自测试设计 期刊论文 同济大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1204 作者:  何蓉晖;  李华伟;  李晓维;  宫云战 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04 CPU  存储器内建自测试  故障模型  march算法  可测性设计  超大规模集成电路  IP核
	MBDD构造与优化设计 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 1996, 卷号: 8.0, 期号: 003, 页码: 234 作者:  张东林;  宫云战;  何新华 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04 构造  集成电路  CAD  MBDD  优化设计